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  • Imaging techniques and scanning electron microscopy as tools for characterizing a Si-based material used in air monitoring applications [2016]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Luis Negral Álvarez , Leonor Castrillón Peláez , Beatriz Suárez Peña , Laura Megido Fernández , María Elena Marañón Maison , Yolanda Fernández Nava
    Fecha:
    01 de Enero de 2016
    Es parte de:
    Materials